加压分析用结构体、X射线衍射装置及加压分析系统
著录事项变更
摘要
本发明涉及一种加压分析用结构体，其具备收容全固体电池(S)的试料收容单元(10)和包含用于使压力作用于全固体电池(S)的加压机构的加压单元(30)。全固体电池(S)在试料收容单元(10)的内部以由受压构件(21)和按压构件(22)夹持的状态被加压。而且，沿着与来自加压单元(30)的压力的作用方向正交的外径方向设置有X射线窗(14)，透过该X射线窗(14)能够执行反射式的X射线衍射测定。
基本信息
专利标题 ：
加压分析用结构体、X射线衍射装置及加压分析系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114280091A
申请号 ：
CN202111132714.4
公开（公告）日 ：
2022-04-05
申请日 ：
2021-09-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
池田俊幸伊藤幸一郎
申请人 ：
株式会社理学
申请人地址 ：
日本东京
代理机构 ：
中国贸促会专利商标事务所有限公司
代理人 ：
张宝荣
优先权 ：
CN202111132714.4
主分类号 ：
G01N23/207
IPC分类号 ：
G01N23/207 G01N23/20008
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/207
衍射，例如，利用处于中心位置的探针以及安放在周围的一个或多个可移动的检测器
法律状态
2022-06-03 ：
著录事项变更
IPC(主分类) : G01N 23/207
变更事项 : 发明人
变更前 : 池田俊幸 伊藤幸一郎
变更后 : 伊藤幸一郎
变更事项 : 发明人
变更前 : 池田俊幸 伊藤幸一郎
变更后 : 伊藤幸一郎
2022-04-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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