本发明涉及集成电路粒子技术领域,且公开了用于半导体集成电路粒子碰撞噪声试验的夹具，其包括底座，所述底座的上方设有操作台，操作台的上方设有试验试样件传送装置和打包箱，操作台的一侧连接有支撑柱，操作台和支撑柱的底端均设有与底座连接的支撑腿，支撑柱的内部开设有容纳槽，支撑柱的一侧顶端设有位于操作台上方的移动杆；通过配合吸附连接机构的设计，实现对试验试样件的吸附，进而提高了试验试样件的夹持稳定性，可以避免试验试样件在打包过程中掉落而缩短试验试样件使用寿命，进而实现对试验试样件保护，同时提高了试验试样件的打包效率，并降低了劳动力投入。