基于Crine模型XLPE绝缘材料老化寿命评估方法

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摘要

本发明公开了一种基于Crine模型XLPE绝缘材料老化寿命评估方法，包括：对XLPE绝缘材料试样进行不同温度不同时间步长逐级升压实验；采用Weibull分布求解获取XLPE绝缘材料试样的特征时间、特征电压和最后一步时间；对XLPE绝缘材料老化寿命作三个假设；得到改进Crine模型，测量拟合曲线在不同温度、不同电压等级下的电导电流密度，采用改进Crine模型求解XLPE绝缘材料试样的活化自由能ΔG；确定不同温度下随电场变化XLPE绝缘材料的老化寿命。该发明解决了以往老化模型仅考虑电场和单电子作用下的老化问题，可以用于测量各种绝缘材料的老化寿命。

基本信息

专利标题：

基于Crine模型XLPE绝缘材料老化寿命评估方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN113777455A

申请号：

CN202111153339.1

公开（公告）日：

2021-12-10

申请日：

2021-09-29

授权号：

CN113777455B

授权日：

2022-05-24

发明人：

吕泽鹏王政钧吴锴曹丹王世栋

申请人：

西安交通大学

申请人地址：

陕西省西安市咸宁西路28号

代理机构：

西安通大专利代理有限责任公司

代理人：

高博

优先权：

CN202111153339.1

主分类号：

G01R31/12

IPC分类号：

G01R31/12