一种基于表示学习重构残差分析的图像集分类方法及系统
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摘要

本发明公开了基于表示学习重构残差分析的图像集分类方法及系统,所述方法利用高斯核函数,将获取的图像集数据的低维特征映射到高维空间中,然后通过构建残差判别分析模型学习一个投影矩阵,使得投影后的图像集特征类内重建残差最小,类间重建残差最大。本发明通过输入来自于视频序列、影集或监控系统的图像集数据;对所述图像集进行数据预处理操作;将获取的图像数据输入到重构残差分析模型进行模型训练,得到最优投影矩阵;基于最优投影矩阵构建新的图像集分类器;将测试图像集输入到分类器中进行分类,得到对应的类别标签。

基本信息
专利标题 :
一种基于表示学习重构残差分析的图像集分类方法及系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113887661A
申请号 :
CN202111243560.6
公开(公告)日 :
2022-01-04
申请日 :
2021-10-25
授权号 :
CN113887661B
授权日 :
2022-06-03
发明人 :
高希占冯泽明牛四杰董吉文
申请人 :
济南大学
申请人地址 :
山东省济南市市中区南辛庄西路336号济南大学
代理机构 :
济南领升专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王吉勇
优先权 :
CN202111243560.6
主分类号 :
G06K9/62
IPC分类号 :
G06K9/62  G06T5/40  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06K
数据识别;数据表示;记录载体;记录载体的处理
G06K9/00
用于阅读或识别印刷或书写字符或者用于识别图形,例如,指纹的方法或装置
G06K9/62
应用电子设备进行识别的方法或装置
法律状态
2022-06-03 :
授权
2022-01-21 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06K 9/62
申请日 : 20211025
2022-01-04 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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