一种基于PCB图的测试方法、系统、存储介质及设备
公开
摘要

本发明提供了一种基于PCB图的测试方法、系统、存储介质及设备,方法包括:通过PCB制图软件获取PCB图上若干零件的位号和封装类型名称以及丝印坐标信息;通过每个零件的位号将其封装类型名称与丝印坐标信息关联,并记录至表格中;针对特定零件,根据其位号在表格中提取其丝印坐标信息,并将其中的若干坐标值增加或减少预设数值,以得到若干扩展坐标值;针对指定零件,根据其位号在表格中提取其丝印坐标信息,并将其中的若干坐标值与若干扩展坐标值进行比较,基于比较结果确认其中是否有坐标值落入若干扩展坐标值所组成的范围内;若有,得到指定零件为不符合预设要求的零件的测试结果。本发明提高了测试指定零件的位置是否符合安装安全要求的效率。

基本信息
专利标题 :
一种基于PCB图的测试方法、系统、存储介质及设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114299077A
申请号 :
CN202111343850.8
公开(公告)日 :
2022-04-08
申请日 :
2021-11-14
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
郭丹萍
申请人 :
苏州浪潮智能科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
代理机构 :
北京连和连知识产权代理有限公司
代理人 :
李红萧
优先权 :
CN202111343850.8
主分类号 :
G06T7/11
IPC分类号 :
G06T7/11  G06T7/00  G06T7/70  G06F30/39  G06F115/12  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T5/00
图像的增强或复原
G06T5/50
通过使用多于一幅图像的,例如平均、减少
G06T7/11
区域分割
法律状态
2022-04-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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