用于验证非易失存储器控制电路的验证装置、系统及方法
实质审查的生效
摘要

本发明实施例提供一种用于验证非易失存储器控制电路的验证装置、系统及方法,属于集成电路技术领域。用于验证非易失存储器控制电路的验证装置基于FPGA芯片设计,且该验证装置包括通用读写接口模块和通用的非易失存储器的核心逻辑模块,所述通用读写接口基于预设的接口逻辑,将所述非易失存储器控制电路发送的操作指令发送至所述通用的非易失存储器的核心逻辑模块,以通过操作指令对所述非易失存储器控制电路进行模拟验证。在对于芯片数据逻辑验证的FPGA仿真系统中,对不同的非易失存储器控制电路进行验证时,不需要更换通用的非易失存储器的核心逻辑模块,仅需要重新设计通用读写接口模块的外围接口逻辑,可以支持全型号的非易失存储单元的仿真验证。

基本信息
专利标题 :
用于验证非易失存储器控制电路的验证装置、系统及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114333963A
申请号 :
CN202111357654.6
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-11-16
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李濛成嵩胡毅杜鹏程姜明刚
申请人 :
北京智芯微电子科技有限公司;北京智芯半导体科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼
代理机构 :
北京润平知识产权代理有限公司
代理人 :
高英英
优先权 :
CN202111357654.6
主分类号 :
G11C29/38
IPC分类号 :
G11C29/38  G11C29/56  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验;备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试,例如,在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置,例如,内置的自检装置
G11C29/38
响应验证装置
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/38
申请日 : 20211116
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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