光散射测定装置以及测定用夹具
公开
摘要

本发明提供一种光散射测定装置以及测定用夹具,能实施前向测定或者侧向测定和后向测定双方,且具有单个受光器,由此小型且低成本。一种光散射测定装置,具有:光源;单个受光器;试样保持部,具有试样池、框体以及光学元件,其中,该框体具有配置试样池的保持空间、形成为用于前向测定或者侧向测定中的至少任意一方的测定的第一光路的入射部的第一开口以及形成为用于后向测定的第二光路的入射部的第二开口,该光学元件具有与空腔的侧面成一定的角度的第一面;以及移动机构,使测定用夹具在铅垂方向移动。光学元件配置于第一光路或者第二光路的入射部或者出射部。第一光路和第二光路在铅垂方向分离。移动机构在进行前向测定或者侧向测定的情况下,使第一开口移动至第一光路的入射部的位置,在进行后向测定的情况下,使第二开口移动至第二光路的入射部的位置。

基本信息
专利标题 :
光散射测定装置以及测定用夹具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114509372A
申请号 :
CN202111360763.3
公开(公告)日 :
2022-05-17
申请日 :
2021-11-17
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
泉谷悠介若山育央长泽广也
申请人 :
大塚电子株式会社
申请人地址 :
日本大阪府枚方市
代理机构 :
北京品源专利代理有限公司
代理人 :
吕琳
优先权 :
CN202111360763.3
主分类号 :
G01N15/00
IPC分类号 :
G01N15/00  G01N15/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
法律状态
2022-05-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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