剩余寿命检测方法、系统及存储介质
实质审查的生效
摘要
本申请涉及一种剩余寿命检测方法、系统及其存储介质。剩余寿命检测方法包括：获取待测变压器的热点温度，其中，热点温度为绕组中的最高温度；对热点温度和待测变压器的预期寿命进行计算以获取第一剩余寿命，其中，第一剩余寿命用于表征待测变压器的剩余寿命的估算值。采用本发明可获知待测变压器所剩余的使用寿命，有利于提高待测变压器的可靠性和稳定性。
基本信息
专利标题 ：
剩余寿命检测方法、系统及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114460389A
申请号 ：
CN202111394698.6
公开（公告）日 ：
2022-05-10
申请日 ：
2021-11-23
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
梁兆杰李艳田杰张大宁
申请人 ：
深圳供电局有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市罗湖区深南东路4020号电力调度通信大楼
代理机构 ：
华进联合专利商标代理有限公司
代理人 ：
舒丁
优先权 ：
CN202111394698.6
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-05-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20211123
申请日 : 20211123
2022-05-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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