一种光耦合器检测装置及其方法
实质审查的生效
摘要
本申请涉及一种光耦合器检测装置及其方法,其包括安装板和固定安装于安装板的一侧的料轨,料轨内部设置有至少两个电路板,电路板沿料轨的长度方向间隔设置,电路板嵌设于安装板,电路板远离安装板的一侧安装有与光耦合器的引脚数量相等的导电片,每一电路板位于工序下游的一侧设置有第一支撑板,第一支撑板伸缩安装于安装板,导电片相对设置有压板,压板安装有用于控制压板靠近或远离电路板的移动机构,电路板所在工序的上游设置有放料机构,料轨位于工序的下游的一端设置有回收机构。本申请具有降低光耦合器的引脚受到挤压而弯曲损坏的情况出现的效果。
基本信息
专利标题 :
一种光耦合器检测装置及其方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114325162A
申请号 :
CN202111407285.7
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-11-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
陈仕财王钧毅陈伯爱张飞刘红盛
申请人 :
厦门久宏鑫光电有限公司
申请人地址 :
福建省厦门市厦门火炬高新区(翔安)产业区舫山南路1158号1楼101室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202111407285.7
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20211124
申请日 : 20211124
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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