耦合电容异常检测装置及其检测方法
公开
摘要
本公开提供一种耦合电容异常检测装置及其检测方法。所述检测方法包含下列步骤：提供第一信号测量电路以及多个导线，所述第一信号测量电路具有接地端、第一输入端与第二输入端，其中所述多个导线的其中两导线分别电连接至所述接地端及所述第一输入端。提供电源至所述第一信号测量电路，以在所述两导线之间形成第一充电电压，且在所述接地端及所述第二输入端间形成充电参考电压。根据所述第一充电电压以及所述充电参考电压，判断所述两导线间是否发生变异状况。
基本信息
专利标题 ：
耦合电容异常检测装置及其检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114609497A
申请号 ：
CN202110021249.0
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2021-01-08
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
许哲嘉
申请人 ：
兴城科技股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾桃园市320中坜区吉林路27-1号7楼
代理机构 ：
中国贸促会专利商标事务所有限公司
代理人 ：
曹瑾
优先权 ：
CN202110021249.0
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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