本申请公开了一种信号源分析仪相位噪声校准方法，包括以下步骤：低相噪光频梳通过光学锁频方式锁定在高稳光源上；对低相噪光频梳进行光电变频产生谐波序列电信号；通过滤波提取设定频率的微波载频信号，再对所述微波载频信号进行放大至设定功率；通过程控衰减器对微波载频信号进一步进行幅度控制后，以所述设定功率以下的一个或多个功率点值条件下，输入信号分析仪，分别对信号分析仪的相位噪声测量灵敏度进行校准；依据线性关系，确定信号分析仪的相位噪声测量灵敏度。本申请还包含实现所述方法的信号源分析仪相位噪声校准装置。本申请克服了标准源相位噪声无法满足测试水平的问题。