用于测试比较器的方法和设备
公开
摘要
本公开的实施例涉及用于测试比较器的方法和设备。一种用于片上系统SoC的设备，该设备包括：比较器，包括第一输入端口、第二输入端口和输出端口。第一输入信号和第二输入信号被划分成N个比特对，该N个比特对包括来自第一输入信号的一个比特和来自第二输入信号的一个比特。该比较器被配置为使得第一输入信号与第二输入信号之间的失配导致输出信号呈现第一预期状态。该设备还包括测试控制器，该测试控制器用于通过使N个比特对失配并验证输出信号呈现第一预期状态来执行第一可操作性测试。
基本信息
专利标题 ：
用于测试比较器的方法和设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114578205A
申请号 ：
CN202111436600.9
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2021-11-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
V·M·夏尔马D·巴兰瓦尔A·潘迪
申请人 ：
意法半导体国际有限公司
申请人地址 ：
瑞士日内瓦
代理机构 ：
北京市金杜律师事务所
代理人 ：
黄海鸣
优先权 ：
CN202111436600.9
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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