一种ATE设备DC校准有效性的检测方法
实质审查的生效
摘要

一种ATE设备DC校准有效性的检测装置及其检测方法,用于检测业务板卡各数字通道的DC校准有效性测试;该装置其包括多块数字板卡和环回互联模块;每块数字板卡包括上百个通道和一个板卡逻辑处理单元;环回互联模块包括线缆和与数字板卡对接的连接器,用于将每个数字板卡上的每两个相邻通道为一组进行环回互联以形成一条检测回路;板卡逻辑处理单元包括正向测试单元、反向测试单元和判断单元;正向测试单元奇数通道进行检测回路的校准有效性遍历,反向测试单元对偶数通道的校准有效性遍历,判断单元根据校准有效性检测标准和所有校准有效性遍历的结果,判断全部通道的DC校准情况;因此,本发明可以使用户提供更为便捷的ATE设备DC校准有效性的检测功能。

基本信息
专利标题 :
一种ATE设备DC校准有效性的检测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114264996A
申请号 :
CN202111441371.X
公开(公告)日 :
2022-04-01
申请日 :
2021-11-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
黄谷来
申请人 :
上海御渡半导体科技有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区泥城镇新元南路600号1幢1夹层
代理机构 :
上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
吴世华
优先权 :
CN202111441371.X
主分类号 :
G01R35/00
IPC分类号 :
G01R35/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2022-04-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 35/00
申请日 : 20211130
2022-04-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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