基于幅相差异性分析的地基SAR高质量像素点选择方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种基于幅相差异性分析的地基SAR高质量像素点选择方法，使用本发明可以从地基SAR图像中准确的选择出幅相单点性和区域性稳定的像素点，有利于提高差分干涉形变测量精度，为滑坡灾害的预测预警提供准确的一维形变数据。首先采用幅度离差法，对像素点进行幅度分类；其次基于聚类相位分析，选择出幅度和相位均高度稳定的像素点；然后基于时序相位分析，选择出幅度高稳定、相位高稳定的像素点；最后基于区域幅相分析，选择出幅相区域性稳定像素点。
基本信息
专利标题 ：
基于幅相差异性分析的地基SAR高质量像素点选择方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114325698A
申请号 ：
CN202111456469.2
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-02
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
邓云开胡程田卫明曾涛朱嘉鑫
申请人 ：
北京理工大学
申请人地址 ：
北京市海淀区中关村南大街5号
代理机构 ：
北京理工大学专利中心
代理人 ：
袁瑞霞
优先权 ：
CN202111456469.2
主分类号 ：
G01S13/90
IPC分类号 ：
G01S13/90 G06V10/762 G06V10/764 G06K9/62
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S13/00
使用无线电波的反射或再辐射的系统，例如雷达系统；利用波的性质或波长是无关的或未指明的波的反射或再辐射的类似系统
G01S13/89
用于绘地图或成像
G01S13/90
使用合成孔径技术
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01S 13/90
申请日 : 20211202
申请日 : 20211202
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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