本申请公开了一种芯片性能的测评方法及装置、存储介质、计算机设备，涉及芯片测试技术领域，主要目的在于改善现有的芯片测试方式局限而导致的芯片性能测试准确性较低的问题。该方法包括：配置多种测试模式和与所述测试模式分别对应的处理模型，所述多种测试模式用于模拟芯片作业的不同场景，且所述测试模式至少包含有背景虚化、人脸识别、图片分类、自然语言问题解答和超分辨率；触发所述芯片依次调用所述处理模型在相应的测试模式下执行处理，得到多个处理结果；根据所述处理结果确定所述芯片的性能等级。主要用于芯片性能的测评。