性能测试方法和装置、存储介质及电子装置
授权
摘要

本发明公开了一种性能测试方法和装置、存储介质及电子装置。其中,该方法包括:获取用于对虚拟场景中的目标对象进行性能测试的测试请求;根据测试请求调用为目标对象配置的测试配置文件;控制目标对象按照执行策略在虚拟场景中依次执行动作组合中的动作;利用性能配置公式计算目标对象执行动作组合中的动作所需的第二性能变化值;根据第一性能变化值与第二性能变化值的比对结果,确定目标对象的测试结果。本发明解决了相关技术中存在的对虚拟角色进行测试的测试效率低的技术问题。

基本信息
专利标题 :
性能测试方法和装置、存储介质及电子装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN109460361A
申请号 :
CN201811302199.8
公开(公告)日 :
2019-03-12
申请日 :
2018-11-02
授权号 :
CN109460361B
授权日 :
2022-05-20
发明人 :
李凤兰陈强邱秋荣
申请人 :
腾讯科技(成都)有限公司
申请人地址 :
四川省成都市高新区拓东新街81号天府软件园二期C区4号楼
代理机构 :
北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人 :
江舟
优先权 :
CN201811302199.8
主分类号 :
G06F11/36
IPC分类号 :
G06F11/36  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-05-20 :
授权
2019-04-05 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/36
申请日 : 20181102
2019-03-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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