本申请涉及一种块存储性能测试方法、装置、电子设备及存储介质，涉及存储系统领域。方法包括：分别对测试场景的不同构建参数进行多次取值，以生成多个测试场景；基于所述不同的测试场景对预设测试模板进行修改，分别生成所述不同的测试场景对应的测试文件，所述预设测试模板为测试工具对块存储性能测试所需的测试模板文件；基于所述不同的测试场景对应的测试文件对块存储性能进行测试，以获取性能测试结果。通过简化测试场景配置和测试文件配置的过程，从而减少配置测试场景和测试文件所需时间，提高配置效率，进而可以提高对块存储进行不同场景测试的效率。