测试方法及装置、电子设备和存储介质
公开
摘要
本公开涉及一种测试方法及装置、电子设备和存储介质，所述方法包括：设置待测试设备的测试环境；根据测试指令，确定目标接口；通过目标接口向硬件单元发送功能指令；接收响应信息，并确定功能测试结果；在多个时刻，根据响应信息，确定稳定性测试结果；根据功能测试结果和稳定性测试结果，确定硬件单元的测试结果。根据本公开的实施例的测试方法，可设置测试环境，以确定待测试设备在多种测试环境下的测试结果，且可分别调用各硬件单元的接口，以分别测试各硬件单元，减少人为干扰因素，且避免重复和遗漏。进一步地，可通过多个时刻的测试，确定待测试设备的长期运行稳定性。
基本信息
专利标题 ：
测试方法及装置、电子设备和存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114579379A
申请号 ：
CN202210187509.6
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-02-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
郭秦川
申请人 ：
成都商汤科技有限公司
申请人地址 ：
四川省自由贸易试验区成都市天府新区湖畔路北段366号1栋3楼1号
代理机构 ：
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘新宇
优先权 ：
CN202210187509.6
主分类号 ：
G06F11/22
IPC分类号 ：
G06F11/22 G06F11/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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