交易性能测试方法及装置、存储介质及电子设备
公开
摘要

本发明提供了一种交易性能测试方法及装置、存储介质及电子设备,其中,可以基于并发量向交易系统发送交易测试数据,获得并发交易响应时间;若并发交易响应时间未大于容忍时间,则执行迭代测试操作;迭代测试操作包括:根据梯度增加值更新当前的并发量,并基于当前已更新的并发量向待测试交易系统发送交易测试数据,获得已更新的并发量对应的并发交易响应时间;若更新后的并发量对应的并发交易响应时间未大于容忍时间,则重新执行迭代操作,直至更新后的并发量对应的并发交易响应时间大于容忍时间;若更新后的并发量对应的并发交易响应时间大于容忍时间,则将当前并发量的前一并发量确定为交易系统的最大并发量,能够测试出交易系统的最大并发量。

基本信息
专利标题 :
交易性能测试方法及装置、存储介质及电子设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114579450A
申请号 :
CN202210211562.5
公开(公告)日 :
2022-06-03
申请日 :
2022-03-04
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
延皓杨晓勤
申请人 :
中国建设银行股份有限公司
申请人地址 :
北京市西城区金融大街25号
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
李伟
优先权 :
CN202210211562.5
主分类号 :
G06F11/36
IPC分类号 :
G06F11/36  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-06-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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