基于直推式半监督深度学习的细粒度图像分类方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开的基于直推式半监督深度学习的细粒度图像分类方法,包括以下步骤:准备细粒度图像的半监督学习训练样本集,将训练样本集划分为有标注训练样本集和无标注训练样本集;构建树型类层级结构;根据类层级结构,搭建深度卷积神经网络模型;在有标注训练样本集上训搭建的网络模型;为所有训练样本推断出对应的层级类标签向量集合;为每一个训练样本计算出与之对应的置信度;使用整个训练样本集从随机初始化开始训练搭建的网络模型;重复执行步骤5~7,直到前后两轮次所学习到的网络模型对无标注样本所推断出的细粒度类标签向量基本一致;将待分类的细粒度图像输入训练好的网络模型,在细粒度分类层得到该图像的预测类别。

基本信息
专利标题 :
基于直推式半监督深度学习的细粒度图像分类方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114373093A
申请号 :
CN202111478946.5
公开(公告)日 :
2022-04-19
申请日 :
2021-12-06
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
石伟伟黑新宏谢国王晓帆贾萌鲁晓锋
申请人 :
西安理工大学
申请人地址 :
陕西省西安市碑林区金花南路5号
代理机构 :
西安弘理专利事务所
代理人 :
许志蛟
优先权 :
CN202111478946.5
主分类号 :
G06V10/764
IPC分类号 :
G06V10/764  G06V10/774  G06K9/62  G06N3/04  G06N3/08  
法律状态
2022-05-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06V 10/764
申请日 : 20211206
2022-04-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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