光栅的测试系统、方法、装置、存储介质和电子装置
公开
摘要
本发明实施例提供了一种光栅的测试系统、方法、装置、存储介质和电子装置，其中，该系统包括：光源模块，光栅连接模块，控制模块和光谱仪，其中，光源模块的输出端与光栅连接模块的输入端连接，控制模块的输入端包括至少两个开关通道，光栅连接模块的输出端与至少两个开关通道的第一通道连接，光栅连接模块的输入端还与至少两个开关通道的第二通道连接，控制模块的输出端与光谱仪连接。通过本发明，解决了相关技术中存在的光栅的测试效率较低的问题，进而达到了提高光栅的测试效率的效果。
基本信息
专利标题 ：
光栅的测试系统、方法、装置、存储介质和电子装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114295322A
申请号 ：
CN202111503931.X
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-12-09
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
田婷婷闫大鹏古杨施建宏黄中亚
申请人 ：
武汉锐科光纤激光技术股份有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖开发区高新大道999号
代理机构 ：
北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
王晓婷
优先权 ：
CN202111503931.X
主分类号 ：
G01M11/00
IPC分类号 ：
G01M11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/00
光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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