一种组织等效正比计数器模拟谱生成方法及其应用
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种组织等效正比计数器模拟谱生成方法及其应用,通过收集国内外发表的国际空间站环境、单能粒子、γ场、中子场中利用组织等效正比计数器测得的数据,并对收集的数据进行处理以形成基础谱,在基础谱的基础上生成满足上述不同辐射场中组织等效正比计数器测量分布规律的模拟谱,并由该谱得到品质因数Q、吸收剂量D与剂量当量H值,可应用于对组织等效正比计数器硬件测量系统及信号处理模块进行校准。采用本发明所公开的组织等效正比计数器校准方法,具有校准效率高、可实时进行校准,并且应用范围广的优点。
基本信息
专利标题 :
一种组织等效正比计数器模拟谱生成方法及其应用
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114371499A
申请号 :
CN202111512628.6
公开(公告)日 :
2022-04-19
申请日 :
2021-12-08
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
陈宝维赵飞许志杨中建张煜谢伟民程昊
申请人 :
中国辐射防护研究院
申请人地址 :
山西省太原市小店区学府街102号
代理机构 :
北京天悦专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
田明
优先权 :
CN202111512628.6
主分类号 :
G01T7/00
IPC分类号 :
G01T7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T7/00
辐射计量仪器的附件
法律状态
2022-05-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01T 7/00
申请日 : 20211208
申请日 : 20211208
2022-04-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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