一种芯片化波长标准获取装置及波长测量装置
实质审查的生效
摘要
本发明公开的一种芯片化波长标准获取装置及波长测量装置,属于长度计量测试领域。本发明公开的一种芯片化波长标准获取装置,由于原子能级是量子化的,其基态能级差是确定不变的,将微腔芯片输出的激光波长锁定至原子基态能级差,因此获得的波长标准具有量子化的精度。本发明公开的一种基于芯片化波长标准的波长测量装置,基于所述一种芯片化波长标准获取装置实现,采用波长标准结合劈尖干涉,将波长的测量直接与量子化的波长标准联系起来,显著提高波长测量的准确性。本发明具有体积小、成本低、可集成的优点。本发明能够很方便的用于各种现场环境下波长测量。本发明能够支撑波长测量装置嵌入到测量设备中,实现波长的在线、高精度测量。
基本信息
专利标题 :
一种芯片化波长标准获取装置及波长测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114383740A
申请号 :
CN202111520589.4
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2021-12-13
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李维刘雅丽李小宽李昱东冯梁森
申请人 :
中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
申请人地址 :
北京市海淀区温泉镇环山村
代理机构 :
北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王松
优先权 :
CN202111520589.4
主分类号 :
G01J9/02
IPC分类号 :
G01J9/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差;测定相干性的程度;测量光学波长
G01J9/02
采用干涉法
法律状态
2022-05-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 9/02
申请日 : 20211213
申请日 : 20211213
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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