一种用于有源LED矩阵面板的测试方法
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摘要

本发明公开了一种一种用于有源LED矩阵面板的测试方法,其包括:所述有源LED矩阵面板通电后,启动定时器;驱动控制器以小于预定时间间隔在通讯总线上输出测试数据报文;当驱动IC在预定时间间隔内接收到的报文为测试数据报文,则该驱动IC根据测试数据报文所规定的第一显示模式驱动LED进行显示;当驱动IC在预定时间间隔T内未接收到报文信息时,则驱动IC进入通讯故障状态,此时驱动IC以小于预定时间间隔T的频率输出故障数据报文,并以预定的第二显示模式驱动LED进行显示;当驱动IC在预定时间间隔T内接收到报文信息后,且该报文信息为故障数据报文时,则驱动IC进入前级通讯故障状态,该驱动IC以预定的第三显示模式驱动LED进行显示。

基本信息
专利标题 :
一种用于有源LED矩阵面板的测试方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114217213A
申请号 :
CN202111538075.1
公开(公告)日 :
2022-03-22
申请日 :
2021-12-15
授权号 :
CN114217213B
授权日 :
2022-05-06
发明人 :
张建良
申请人 :
北京芯格诺微电子有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区知春路1号学院国际大厦17层1707
代理机构 :
北京智宇正信知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
李明卓
优先权 :
CN202111538075.1
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R31/44  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-06 :
授权
2022-04-08 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20211215
2022-03-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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