一种测试矢量生成装置及方法
实质审查的生效
摘要

本申请涉及一种测试矢量生成装置及方法,属于集成电路测试技术领域。其中,一种测试矢量生成装置,包括:功能模型模块、测试图形算法模块、测试矢量描述模块、测试矢量计算模块和矢量数据输出模块。功能模型模块用于根据从待测试存储器获取的接口信息建立测试功能模型;测试图形算法模块用于提供测试图形计算逻辑;测试矢量描述模块用于提供一个存储地址的矢量数据信息以及提供引脚定义;测试矢量计算模块用于计算待测试存储器的各个存储地址的测试矢量数据;矢量数据输出模块用于输出测试矢量数据。该装置可方便、快捷地生成应用于存储器功能测试的测试矢量数据,解决了测试矢量生成过程时间较长的技术问题,提高了存储器的测试效率。

基本信息
专利标题 :
一种测试矢量生成装置及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114283872A
申请号 :
CN202111547168.0
公开(公告)日 :
2022-04-05
申请日 :
2021-12-16
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
闫丽琴冯建呈王占选郝改萍王振华殷晔潘国庆王石记
申请人 :
北京航天测控技术有限公司
申请人地址 :
北京市石景山区实兴东街3号1-8号楼
代理机构 :
北京华夏泰和知识产权代理有限公司
代理人 :
张娜
优先权 :
CN202111547168.0
主分类号 :
G11C29/36
IPC分类号 :
G11C29/36  G11C29/18  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验;备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试,例如,在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置,例如,内置的自检装置
G11C29/36
数据生成装置,例如,数据反相器
法律状态
2022-04-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/36
申请日 : 20211216
2022-04-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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