一种高导热厚膜基片及其制备方法
实质审查的生效
摘要

一种高导热厚膜基片及其制备方法,属于混合集成电路领域。包括厚膜基片本体、导带或阻带、芯片焊接区、导热凹孔、磁控溅射层、金锡焊料层、铜块、填充层、背面金属化层。导带或阻带、芯片焊接区位于厚膜基片本体正面表面,背面金属化层位于厚膜基片背面,导热凹孔位于厚膜基片背面正对表面芯片焊接区的区域,磁控溅射层为在陶瓷凹孔底部的耐高温金属膜层,金锡焊料层为铜块与凹孔底部的耐高温金属膜层之间的焊接层,铜块位于凹孔中,纳米金浆料填充层位于铜块与凹孔的间隙中。采用激光开凹孔。在不影响其电路载体功能的情况下,通过改变氧化铝厚膜基片的结构,从而增加厚膜基片的导热效率。广泛应用于功率混合集成电路中作高导热性能厚膜基片。

基本信息
专利标题 :
一种高导热厚膜基片及其制备方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114388491A
申请号 :
CN202111549093.X
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2021-12-17
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
张超超唐拓周恒刘金丽陈毅黄洁徐永朋李阳
申请人 :
贵州振华风光半导体股份有限公司
申请人地址 :
贵州省贵阳市乌当区新添大道北段238号
代理机构 :
贵阳中工知识产权代理事务所
代理人 :
刘安宁
优先权 :
CN202111549093.X
主分类号 :
H01L27/01
IPC分类号 :
H01L27/01  H01L23/367  H01L21/70  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27/00
由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27/01
只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
法律状态
2022-05-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 27/01
申请日 : 20211217
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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