一种花键量规参数测量方法及装置
公开
摘要

本发明公开的一种花键量规参数测量方法及装置,属于计量器具校准领域。本发明的装置包括底座、工作台、运动轴、测头、立柱、上顶尖和下顶尖。测头为三维扫描测头,测量切向运动轴X轴位置的传感器安装在U轴上,测量径向运动轴Y轴位置的传感器安装在靠近Y轴运动导轨的位置。本发明使用接触测量方式扫描花键工作面,计算得到齿厚和齿槽宽;使用自定心方式,直接测得跨棒距M值。本发明采用的基圆数学模型、分度圆数学模型和花键齿形数学模型等花键数学模型和测量装置布局符合参数定义,能够满足各类型花键校准需求,尤其是能够从实质上解决奇数齿花键的校准问题,消除实际压力角偏离理论值对测量结果的影响,提高测量效率及测量结果更精确程度。

基本信息
专利标题 :
一种花键量规参数测量方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114295063A
申请号 :
CN202111561688.7
公开(公告)日 :
2022-04-08
申请日 :
2021-12-16
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王一璋孙玉玖王爱军钱丰
申请人 :
中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
申请人地址 :
北京市海淀区温泉镇环山村
代理机构 :
北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王松
优先权 :
CN202111561688.7
主分类号 :
G01B11/03
IPC分类号 :
G01B11/03  G01B11/06  G01B11/14  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/03
通过测量各点的坐标
法律状态
2022-04-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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