一种高速串行接口测试方法及装置
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种高速串行接口测试方法及装置,属于芯片测试领域。其中,该方法包括:接收控制终端下发的测试指令与测试数据;通过高速串行接口IP核获取各个高速串行接口的通讯状态;将所述通讯状态反馈至所述控制终端,以使所述控制终端识别所述高速串行接口的通讯协议;根据所述通讯协议对所述高速串行接口进行仿真和/或测试。通过本发明,解决了现有技术高速串行通信接口测试只能使用专用测试仪器,操作复杂,测试成本高的技术问题,实现了对芯片的各类高速串行接口进行自动识别,并能够快速对相应接口的功能和性能进行相关测试。

基本信息
专利标题 :
一种高速串行接口测试方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114265732A
申请号 :
CN202111571972.2
公开(公告)日 :
2022-04-01
申请日 :
2021-12-21
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
安佰岳刘康丽张朝元李嘉瑞杨硕尉晓惠周庆飞赵砚博胡志臣
申请人 :
北京航天测控技术有限公司
申请人地址 :
北京市石景山区实兴东街3号1-8号楼
代理机构 :
北京华夏泰和知识产权代理有限公司
代理人 :
蔡良伟
优先权 :
CN202111571972.2
主分类号 :
G06F11/22
IPC分类号 :
G06F11/22  G06F11/26  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内,通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2022-04-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/22
申请日 : 20211221
2022-04-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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