实现颗粒磨损的离散元模拟方法、存储介质及设备
实质审查的生效
摘要

本发明属于颗粒磨损分析技术领域,公开了一种实现颗粒磨损的离散元模拟方法、存储介质及设备,包括:实验法得到摩擦系数与接触力的变化曲线,确定摩擦衰减数学模型;将摩擦衰减模型嵌入到离散元程序中,分析实验数据,确定模型参数;双球离散元模型试验验证摩擦衰减模型,离散元模拟分析颗粒磨损对粗粒土试样宏观力学特性的影响。本发明通过对颗粒接触模型的修改,从细观层面,模拟颗粒磨损对粒间接触力的影响,进而从宏观层面,实现颗粒接触点磨损对粗粒土试样宏观力学特性的影响。同时与传统的方法相比,该方法不会对颗粒的形状和粗粒土试样的级配产生影响;同时本发明实现容易,且不会增加离散元模拟时间。

基本信息
专利标题 :
实现颗粒磨损的离散元模拟方法、存储介质及设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114329937A
申请号 :
CN202111579309.7
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-22
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
魏江涛任军楠张迎宾富海鹰常志旺蒋民轩
申请人 :
西南交通大学
申请人地址 :
四川省成都市二环路北一段111号
代理机构 :
北京国坤专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王峰刚
优先权 :
CN202111579309.7
主分类号 :
G06F30/20
IPC分类号 :
G06F30/20  G06F119/14  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/20
设计优化、验证或模拟
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/20
申请日 : 20211222
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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