本发明涉及激光脉冲测试技术，具体涉及一种基于荧光调制采样的激光脉冲特性测量装置及方法。解决了现有激光脉冲特性测量中波长带宽受限，且不同波长激光脉冲的测量需要不同的非线性晶体的技术问题。本发明装置由激光器产生激光，经第一分束片将激光分成透射光和参考光，参考光依次经过第三分束片、第二反射镜后入射至凹面银镜，再聚焦至荧光晶体产生荧光，荧光通过聚焦镜成像在相机上；透射光束经第二分束片分为基频光与信号光，经过第一反射镜后的基频光与通过延时线后的信号光通过尖劈对进行合束后入射至凹面银镜，再聚焦至荧光晶体产生荧光，最终通过聚焦镜成像在相机上。本发明还提供了一种基于荧光调制采样的激光脉冲特性测量方法。