一种图像质量评估方法、系统、电子设备及存储介质
实质审查的生效
摘要

本发明提供一种图像质量评估方法、系统、电子设备及存储介质,方法包括:基于多个卷积核分别对待评估图像进行去噪,计算去噪后的待评估图像的梯度图,并对梯度图进行标准化;对标准化后的梯度图进行二值化,并基于二值化梯度图提取待评估图像中的感兴趣区域;基于所述感兴趣区域的梯度矩阵和所述感兴趣区域的面积,计算每一个卷积核去噪后的待评估图像的质量评分,并计算待评估图像的最终质量评分。本发明基于多个卷积核对图像进行滤波,以及基于梯度图提取图像中的感兴趣区域,有效的去除图像噪声,并通过组合评分去评价图像的质量,进一步减少噪声对梯度的影响,提高了评估的精确度。

基本信息
专利标题 :
一种图像质量评估方法、系统、电子设备及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114387222A
申请号 :
CN202111580891.9
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2021-12-22
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
周全李宜清简晓敏肖博翰
申请人 :
上海精测半导体技术有限公司
申请人地址 :
上海市青浦区徐泾镇双浜路269、299号1幢1、3层
代理机构 :
武汉蓝宝石专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
万畅
优先权 :
CN202111580891.9
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00  G06T7/11  G06T7/136  G06T7/62  G06T5/00  G06T5/20  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20211222
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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