一种微细颗粒指定层位的离子探针样品靶制备方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种微细颗粒指定层位的离子探针样品靶制备方法，包括结合微米CT对样品颗粒内部结构的三维可视化分析，确定了目标分析对象所在层位，便于微小样品指定层位的样品靶制备。本发明减少了离子探针传统样靶的环氧树脂使用量，降低了样品靶的放气率，有利于提高样品分析腔的真空度；结合微米CT对样品颗粒内部结构的三维可视化分析，确定了目标分析对象所在层位，便于微小样品(如，月壤颗粒等)指定层位的样品靶制备；适用于微细样品单一颗粒的制备需求，便于微小样品的单独储存和离子探针分析。
基本信息
专利标题 ：
一种微细颗粒指定层位的离子探针样品靶制备方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114264846A
申请号 ：
CN202111585756.3
公开（公告）日 ：
2022-04-01
申请日 ：
2021-12-20
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李瑞瑛
申请人 ：
中国科学院地质与地球物理研究所
申请人地址 ：
北京市朝阳区北土城西路19号
代理机构 ：
成都宏田知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
杨伟
优先权 ：
CN202111585756.3
主分类号 ：
G01Q90/00
IPC分类号 ：
G01Q90/00 G01N23/046 G01N1/28 G01N1/32
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01Q
扫描探针技术或设备；扫描探针技术的应用，例如，扫描探针显微术
G01Q90/00
其他类目不包括的扫描探针技术或设备
法律状态
2022-04-19 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01Q 90/00
申请日 : 20211220
申请日 : 20211220
2022-04-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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