一种微纳结构的激光加工与实时原位高分辨观测装置
实质审查的生效
摘要

本发明提供了一种微纳结构的激光加工与实时原位高分辨观测装置,包括激光器、CCD相机和光源,激光器经过激光加工光路聚焦在样品上,光源经过照明光路倾斜照射在样品上,并通过显微成像光路反射到CCD相机中;激光束依次经过电子快门、渐变中性滤光片、长焦透镜、反射镜组、二向色镜和显微物镜聚焦在样品上,构成了激光加工光路;照明光依次经过短焦透镜、分束镜、二向色镜和显微物镜倾斜照射在样品上,构成了照明光路;样品反射的照明光依次经过显微物镜、二向色镜、分束镜进入CCD相机中,构成了显微成像光路。本发明在照明光路上采用短波长照明光,以斜入射照明样品的方式提高了成像质量,实现了在加工过程中对材料表面进行原位观测。

基本信息
专利标题 :
一种微纳结构的激光加工与实时原位高分辨观测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114324436A
申请号 :
CN202111588329.0
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-23
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
宋娟王宏剑
申请人 :
江苏大学
申请人地址 :
江苏省镇江市京口区学府路301号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202111588329.0
主分类号 :
G01N23/2251
IPC分类号 :
G01N23/2251  G02B21/06  G02B21/36  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/225
利用电子或离子微探针
G01N23/2251
使用入射电子束,例如扫描电子显微镜
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/2251
申请日 : 20211223
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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