一种基于光栅图像的位移测量方法及装置
实质审查的生效
摘要

本发明涉及一种基于光栅图像的位移测量方法及装置,首先获取模板图像;其次,沿光栅条纹方向对所述模板图像进行投影得到模板向量;然后,采集待测物位移后的光栅图像,沿光栅条纹方向对所述光栅图像进行投影,构建待测向量,计算待测向量与模板向量的归一化相关系数,其中相关系数最大值对应的像素位置即为待测物位移后的目标特征的像素位置;最后将待测物位移后的目标特征的像素位置与目标特征初始像素位置相减,得到目标特征的相对像素位移,基于所述相对像素位移和所述待测物的初始位置,得到待测物位移后的绝对位置。本发明仅需光栅光源以及采集光栅图像的摄像头即可进行位移测量,适合狭小空间中的位移测量。

基本信息
专利标题 :
一种基于光栅图像的位移测量方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114387323A
申请号 :
CN202111593678.1
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2021-12-23
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
黄涛刘骊松
申请人 :
上海精测半导体技术有限公司
申请人地址 :
上海市青浦区徐泾镇双浜路269、299号1幢1、3层
代理机构 :
武汉蓝宝石专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
万畅
优先权 :
CN202111593678.1
主分类号 :
G06T7/521
IPC分类号 :
G06T7/521  G06T7/73  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/10
分割;边缘检测
G06T7/50
深度或形状恢复
G06T7/521
从激光测距,例如使用干涉测量;从结构化图像的投影图
法律状态
2022-05-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/521
申请日 : 20211223
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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