载波频偏和采样频偏的确定方法及装置
公开
摘要
本申请提供了一种载波频偏和采样频偏的确定方法、装置、计算机可读存储介质及处理器，该方法通过首先获取初始载波频偏值，再根据初始载波频偏值和频带信号的中心频点，确定初始采样频偏值，再根据载频频偏和采样频偏来计算出斜率因子，并对初始载波频偏值进行补偿，从而得到补偿后的载波频偏值，因为是通过补偿后得到了载波频偏值，所以相比现有技术中采用重复序列自相关直接估计方法估计得到的载波频偏的准确率会比较高，最后根据补偿后的载波频偏值和中心频点，从而确定了补偿后的采样频偏值，这样得到的采样频偏值的准确度得以提高，解决了现有技术中采用重复序列自相关直接估计方法估计得到的载波频偏和采样频偏的准确率较低的问题。
基本信息
专利标题 ：
载波频偏和采样频偏的确定方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114301745A
申请号 ：
CN202111603677.0
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-12-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张璞王培吴昌强
申请人 ：
深圳市联平半导体有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区粤海街道科技园社区科发路8号金融服务技术创新基地2栋8E
代理机构 ：
北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
张岳峰
优先权 ：
CN202111603677.0
主分类号 ：
H04L27/00
IPC分类号 ：
H04L27/00 H04L27/26
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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