载波频偏和采样频偏的确定方法及装置
实质审查的生效
摘要
本申请提供了一种载波频偏和采样频偏的确定方法、装置、计算机可读存储介质及处理器，该方法包括获取初始载波频偏序列和初始载波频偏值；根据初始载波频偏序列确定采样频偏相对于载波频偏的斜率因子；根据斜率因子确定初始采样频偏值；至少采用斜率因子对初始载波频偏值进行补偿，得到补偿后的载波频偏值，由于是通过初始载波频偏序列确定的斜率因子，进而根据斜率因子确定初始采样频偏值，进而采用斜率因子对初始载波频偏值进行补偿，得到补偿后的载波频偏值，使得本方案不仅适用于晶振同源OFDM系统又适用于晶振不同源的OFDM系统。
基本信息
专利标题 ：
载波频偏和采样频偏的确定方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114338325A
申请号 ：
CN202111605272.0
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张璞王培吴昌强
申请人 ：
深圳市联平半导体有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区粤海街道科技园社区科发路8号金融服务技术创新基地2栋8E
代理机构 ：
北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
张岳峰
优先权 ：
CN202111605272.0
主分类号 ：
H04L27/26
IPC分类号 ：
H04L27/26 H04L25/02
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04L 27/26
申请日 : 20211224
申请日 : 20211224
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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