芯片采样准位确定方法及装置
授权
摘要
本公开的实施例提供了一种芯片采样准位确定方法、装置、计算机可读介质及电子设备。该芯片采样准位确定方法包括：获取待测芯片的指定通道上的数据信号；按照第一间隔给所述数据信号设置多个第一测试采样点；根据准位电压确定各第一测试采样点相应的第一信号或者第二信号；按照各第一测试采样点对应的采样位置的顺序，对相应的第一信号或者第二信号进行排序；根据排序后的第一信号和第二信号，确定所述待测芯片的采样准位。本公开实施例的技术方案能够实现待测芯片的采样准位的自动准确定位。
基本信息
专利标题 ：
芯片采样准位确定方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111863114A
申请号 ：
CN201910353218.8
公开（公告）日 ：
2020-10-30
申请日 ：
2019-04-29
授权号 ：
CN111863114B
授权日 ：
2022-05-03
发明人 ：
陆天辰
申请人 ：
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室
代理机构 ：
北京律智知识产权代理有限公司
代理人 ：
袁礼君
优先权 ：
CN201910353218.8
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2022-05-03 ：
授权
2020-11-17 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/56
申请日 : 20190429
申请日 : 20190429
2020-10-30 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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