芯片采样准位确定方法及装置
授权
摘要
本公开的实施例提供了一种芯片采样准位确定方法、装置、计算机可读介质及电子设备。该芯片采样准位确定方法包括：获取待测芯片的多个并行通道的数据信号，各数据信号波形相同；按照第一间隔给各通道的数据信号设置第一测试采样点；根据各数据信号的第一测试采样点，获取各数据信号的第一采样电压；根据各第一采样电压确定所述待测芯片的采样准位。本公开实施例的技术方案能够实现待测芯片的采样准位的自动准确定位。
基本信息
专利标题 ：
芯片采样准位确定方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111863112A
申请号 ：
CN201910353194.6
公开（公告）日 ：
2020-10-30
申请日 ：
2019-04-29
授权号 ：
CN111863112B
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
陆天辰
申请人 ：
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室
代理机构 ：
北京律智知识产权代理有限公司
代理人 ：
袁礼君
优先权 ：
CN201910353194.6
主分类号 ：
G11C29/50
IPC分类号 ：
G11C29/50 G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/50
容限测试，例如，竞争、电压或电流测试
法律状态
2022-05-17 ：
授权
2020-11-17 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/50
申请日 : 20190429
申请日 : 20190429
2020-10-30 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN111863112A.PDF
PDF下载
