模拟多环境因子耦合足尺试样劣化试验的方法及装置
实质审查的生效
摘要

本发明涉及模拟多环境因子耦合足尺试样劣化试验的方法及装置。所述模拟多环境因子耦合足尺试样劣化试验的方法,包括:获取各主控环境因子在待模拟周期内的实际产出量;根据各主控环境因子的各级预设量级、和各主控环境因子的各级预设量级对应的预设加载时长和获取的各主控环境因子在待模拟周期内的实际产出量计算在模拟时各主控环境因子的模拟量;根据各主控环境因子的模拟量进行多环境因子耦合足尺试样劣化试验的模拟。本发明可以通过合理抽象不同区域、不同周期环境条件来模拟春、夏、秋、冬气候变化条件,对进一步研究病害特征与赋存环境关系、遗址劣化机制以及保护材料与工艺适用性和耐久性研究具有重要意义。

基本信息
专利标题 :
模拟多环境因子耦合足尺试样劣化试验的方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114264593A
申请号 :
CN202111614229.0
公开(公告)日 :
2022-04-01
申请日 :
2021-12-27
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
郭青林裴强强张博刘晓颖赵建忠尚东娟王彦武余静杨善龙
申请人 :
敦煌研究院
申请人地址 :
甘肃省酒泉市敦煌市敦煌研究院住宅区5号楼2单元602
代理机构 :
北京高沃律师事务所
代理人 :
刘芳
优先权 :
CN202111614229.0
主分类号 :
G01N17/00
IPC分类号 :
G01N17/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N17/00
测试材料的耐气候,耐腐蚀,或耐光照性能
法律状态
2022-04-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 17/00
申请日 : 20211227
2022-04-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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