测试设计的方法、电子设备及存储介质
实质审查的生效
摘要
本申请提供一种测试设计的方法、电子设备及存储介质。该方法包括：执行所述设计的测试，所述测试包括多个测试段，所述多个测试段包括一个目标测试段和多个非目标测试段；在所述测试过程中获取多个标记信息；以及保存所述多个标记信息用于回溯所述测试，其中，保存多个标记信息用于回溯所述测试进一步包括：响应于所述测试进行至目标测试段，按照第一保存密度将所述目标测试段内的多个标记信息保存；以及按照所述第二保存密度将所述多个非目标测试段内的多个标记信息保存，所述第一保存密度高于所述第二保存密度。
基本信息
专利标题 ：
测试设计的方法、电子设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114546822A
申请号 ：
CN202111614991.9
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2021-12-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
黄世杰黄武
申请人 ：
芯华章科技股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市江北新区华创路共享空间01栋18层
代理机构 ：
北京风雅颂专利代理有限公司
代理人 ：
李莎
优先权 ：
CN202111614991.9
主分类号 ：
G06F11/36
IPC分类号 ：
G06F11/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/36
申请日 : 20211227
申请日 : 20211227
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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