本发明涉及一种CT设备的光路异常检测方法，所述CT设备包括用于产生射线的射线源；以及用于检测射线的探测器，所述方法包括以下步骤：沿着所述CT设备的光路进行检测扫描以获得检测扫描数据，所述光路为在扫描时所述射线从所述射线源到所述探测器所经过的路径；根据检测扫描的数据建立所述光路的状态特征指标；以及分析所述状态特征指标以判断所述光路是否异常。本发明通过使CT设备进行检测扫描，对得到的检测扫描数据进行分析即可判断光路部件是否处于正常状态。与现有技术相比，本发明不需要人工的检查或者借助辅助设备，更为方便。