水中铁含量X射线荧光测量用比对滤膜及其制备方法和应用、核...
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种水中铁含量X射线荧光测量用比对滤膜的制备方法,所述制备方法包括如下步骤:将过滤滤膜干燥后称重;将干燥后的过滤滤膜安装至过滤器中;将多组氧化物分散在水中形成多组悬浮液;分别将多组所述悬浮液转移至所述过滤器中,并分别进行过滤;过滤完成之后取出过滤滤膜,干燥后称重;对所述过滤滤膜进行验证,若验证合格,则所述过滤滤膜能够用于核电站中铁含量的定量测量,即为比对滤膜。本发明的水中铁含量X射线荧光测量用比对滤膜的制备方法,制备时间短,制作工艺简单,对比滤膜稳定性良好,且与核电站二回路中累积取样滤膜基体基本一致,可用于XRF测量核电站滤膜中铁含量的外标法定量分析。
基本信息
专利标题 :
水中铁含量X射线荧光测量用比对滤膜及其制备方法和应用、核电站水中铁含量的测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114264683A
申请号 :
CN202111621631.1
公开(公告)日 :
2022-04-01
申请日 :
2021-12-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
乔航熊彬伟方军周府治陈红雨林根仙吕传君宋利君张锦浙张裕孙云田朝晖
申请人 :
苏州热工研究院有限公司;广东核电合营有限公司;中国广核集团有限公司;中国广核电力股份有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市西环路1688号
代理机构 :
苏州创元专利商标事务所有限公司
代理人 :
俞春雷
优先权 :
CN202111621631.1
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223 G01N23/2202
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2022-04-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/223
申请日 : 20211228
申请日 : 20211228
2022-04-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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