基于终点对齐辐照的空间电子系统总剂量效应试验方法
实质审查的生效
摘要
本发明涉及空间总剂量效应，具体涉及基于终点对齐辐照的空间电子系统总剂量效应试验方法，用于解决现有电子系统总剂量效应试验方法不能完全保证电子系统抗总剂量性能评价的可靠性及准确性的不足之处。该基于终点对齐辐照的空间电子系统总剂量效应试验方法，结合电子系统试验的特点设计了方法一至方法四，使本发明相较于基于始点对齐的总剂量效应试验方法符合实际情况，且易于操作，保证了空间电子系统抗总剂量性能评价的准确性，以及航天器在轨安全可靠运行。
基本信息
专利标题 ：
基于终点对齐辐照的空间电子系统总剂量效应试验方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114518498A
申请号 ：
CN202111629083.7
公开（公告）日 ：
2022-05-20
申请日 ：
2021-12-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
姚志斌陈伟盛江坤何宝平马武英郭晓强徐娜军李斌
申请人 ：
西北核技术研究所
申请人地址 ：
陕西省西安市灞桥区平峪路28号
代理机构 ：
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 ：
王少文
优先权 ：
CN202111629083.7
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-06-07 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20211228
申请日 : 20211228
2022-05-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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