测定图像传感器量子效率的方法、装置、设备和介质
公开
摘要

本发明提供了一种测定图像传感器量子效率的方法,包括:图像传感器通过光纤面板接收来自光源的连续光谱;图像传感器分别在暗场和曝光条件下每间隔单位积分时间获取一幅图像,得到暗场图像组和曝光图像组;将曝光图像组的像素值与暗场图像组的像素值相减得到单位积分时间的数据差值;获取连续光谱经若干特定波长滤光后的图像,通过图像传感器定位特定波长在连续光谱中的特定位置;通过特定位置和连续光谱及其与光功率的对应关系,拟合得到光功率曲线并获取第一波长的光功率值;根据光功率值、第一波长、像元尺寸、单位积分时间、数据差值和转换增益,计算图像传感器对应第一波长的量子效率,该方法用于精确测定图像传感器的量子效率。

基本信息
专利标题 :
测定图像传感器量子效率的方法、装置、设备和介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114295565A
申请号 :
CN202111629837.9
公开(公告)日 :
2022-04-08
申请日 :
2021-12-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
宋汉城温建新张悦强叶红波
申请人 :
上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司;上海集成电路研发中心有限公司
申请人地址 :
上海市嘉定区叶城路1288号6幢JT2216室
代理机构 :
上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
黄海霞
优先权 :
CN202111629837.9
主分类号 :
G01N21/31
IPC分类号 :
G01N21/31  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色;光谱性质,即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应,例如原子吸收光谱术
法律状态
2022-04-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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