CCD/CMOS极紫外波段量子效率检测装置及方法
公开
摘要
本发明公开了CCD/CMOS极紫外波段量子效率检测方法，包括极紫外辐射光源、真空腔室、样品台、被测CCD或CMOS以及数据采集机构，真空腔室内为真空，样品台位于真空腔室中，被测CCD或CMOS安置在样品台上，被测CCD或CMOS与数据采集机构信号连接，真空腔室内安装有球面光栅单色器，球面光栅单色器有若干个可转动的光栅，极紫外同步辐射光能射入被测CCD或CMOS镜头，不同的光栅通过改变光栅入射角大小，使得球面光栅单色器输出特定波长的入射单色光。本发明利用同步辐射产生出高纯度的极紫外波段单色光，波长范围为105nm～131nm，包含了极紫外和远紫外的部分波长，在天文上可以进行中性氢及电离氧的分布观测，以研究宇宙的起源和演化。
基本信息
专利标题 ：
CCD/CMOS极紫外波段量子效率检测装置及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114577446A
申请号 ：
CN202210221738.5
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-03-07
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘伟纪丽蔡明生娄铮
申请人 ：
中国科学院紫金山天文台
申请人地址 ：
江苏省南京市鼓楼区北京西路2号
代理机构 ：
南京钟山专利代理有限公司
代理人 ：
张明浩
优先权 ：
CN202210221738.5
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
