本实用新型公开了一种量子芯片检测装置，包括机身和测试槽，所述机身的上端右后侧授设置有电源插口，所述电源插口与外部电源电性相连，所述电源插口的左侧镶嵌有开关，所述机身的前端右上侧镶嵌有显示屏，所述机身的上端左前侧镶嵌有测试槽，所述测试槽的左侧镶嵌有引脚调整装置，本实用新型引脚调整装置由调整盒、调整槽和推块组成，将芯片引脚放进调整盒上的调整槽中，两个拇指向内挤压推块，推块另一端将调整槽内的引脚挤压整齐，松开推块将芯片拿出，调整槽底部的弹簧将推块弹回原处，有益效果是通过引脚调整装置快速将引脚整理整齐，防止了在单独调整其中一个引脚使其断裂，大大提高了工作效率。