一种量子芯片测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种量子芯片测试装置，涉及量子芯片检测装置领域，包括量子芯片放置台、探针装置和检测装置；所述量子芯片放置台表面开有若干用于放置量子芯片的卡槽；所述探针装置包括用于安装所述量子芯片放置台的探针座、至少一对探针和探针移动装置，所述探针固定在所述探针移动装置上，并在所述探针移动装置的带动下移动至所述卡槽的上方并与放置在所述卡槽内的量子芯片接触；所述检测装置与所述探针电连接，本实用新型能够在不对量子芯片造成任何破坏的情况下对大批量量子芯片进行快速有效的检测。
基本信息
专利标题 ：
一种量子芯片测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920468637.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-09
授权号 ：
CN209927979U
授权日 ：
2020-01-10
发明人 ：
李玲朱美珍
申请人 ：
合肥本源量子计算科技有限责任公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市合肥市高新区创业产业园二期E2栋6层
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201920468637.1
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-01-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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