一种量子芯片测试系统

授权

摘要

本实用新型公开了一种量子芯片测试系统，包括：中空圆柱磁体，中空圆柱磁体的一端设置有制冷圆盘；屏蔽筒，屏蔽筒嵌套在中空圆柱磁体内部，且屏蔽筒的开口朝向制冷圆盘设置；支撑连接板件，支撑连接板件的一端固定连接制冷圆盘的中心，支撑连接板件的另一端伸入屏蔽筒内；封装盒体，封装盒体固定设置在支撑连接板件的远离制冷圆盘的一端；封装盒体远离支撑连接板件的一侧嵌装有多个第一连接器，且各第一连接器的一端伸入封装盒体内连接量子芯片，各第一连接器的另一端连接第一信号传输线，第一信号传输线沿支撑连接板件的长度方向延伸。本实用新型能够充分利用中空圆柱磁体内部的狭小空间，实现半导体量子芯片的信号往量子芯片测试系统的良好传输。

基本信息

专利标题：

一种量子芯片测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920957927.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-06-21

授权号：

CN210323273U

授权日：

2020-04-14

发明人：

赵勇杰孔伟成杨夏朱美珍

申请人：

合肥本源量子计算科技有限责任公司

申请人地址：

安徽省合肥市合肥市高新区创业产业园二期E2栋6层

代理机构：

代理人：

优先权：

CN201920957927.2

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28