量子芯片的测试系统及量子计算机
授权
摘要
本实用新型提供了一种量子芯片的测试系统和量子计算机，量子芯片上设置有N根连接若干个量子比特的读取信号传输线，其中，测试系统包括用于对相关量子比特进行表征的量子芯片表征装置、用于对相关量子比特进行测量的量子芯片测量装置和N对第一微波开关，第一微波开关包括一公共端和至少两个开关端，每一对第一微波开关的公共端分别连接一读取信号传输线的输入端和输出端；每一对第一微波开关的两个开关端分别连接量子芯片表征装置或量子芯片测量装置的信号输出端口和信号采集端口。本实用新型通过在测试系统中增设第一微波开关，实现了表征测试回路和测量测试回路的切换，避免人工频繁拆卸接换线路，从而提高量子芯片的测试效率，降低测试成本。
基本信息
专利标题 ：
量子芯片的测试系统及量子计算机
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122373217.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-09-28
授权号 ：
CN216285581U
授权日 ：
2022-04-12
发明人 ：
李雪白王锦涛孔伟成黄小龙
申请人 ：
合肥本源量子计算科技有限责任公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期E2楼六层
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202122373217.5
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G06N10/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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