一种量子芯片测试装置

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摘要

本实用新型属于量子芯片测试领域，公开了一种量子芯片测试装置，量子芯片上分布有待测元件，测试装置包括：引出装置，引出装置上设有第一接地区域和至少一个信号引出区域，第一接地区域用于与待测元件的接地一端电连接，信号引出区域用于与待测元件的另一端电连接；测试母板，测试母板上分布有第二接地区域以及与信号引出区域一一对应的信号传输线，信号传输线的一端与对应的信号引出区域电连接，信号传输线的另一端与测量装置的信号采集端电连接。此种量子芯片测试装置，有效避免了多次连接拆卸造成对待测元件测试不便，且将待测元件信号引出进行测试，相较于测量装置直接连接在待测元件上，本方案测量装置连接更稳定，提高测试结果的准确度。

基本信息

专利标题：

一种量子芯片测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021259288.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-06-30

授权号：

CN212693960U

授权日：

2021-03-12

发明人：

赵勇杰

申请人：

合肥本源量子计算科技有限责任公司

申请人地址：

安徽省合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期E2楼六层

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202021259288.1

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01R31/26 G01R1/04